【聯(lián)系人：鐘生13377775524 Q3130093556】在合金分析分析應(yīng)用方面，I-5000是理想的牌號鑒定和質(zhì)量控制設(shè)備。

眾所周知，鈦合金質(zhì)輕、硬度強、耐高溫，主要應(yīng)用在軍事、航空航天、體育器材、醫(yī)療行業(yè)。鈦合金在這類應(yīng)用程序中的組件通常是高保部件，無損檢測在這類應(yīng)用中尤其重要。XRF熒光光譜儀可以快速、準(zhǔn)確的分析鈦系合金。

市場強大的分析工具

氦氣凈化探測儀增強對輕元素的檢測

開放的自定義軟件

輕元素分析（可選）

樣品測試定位攝像頭（可選）

檢測能力

檢測范圍Cl（17）- U（92），可擴展到Mg（12）- U（92）元素

檢測濃度低于10ppm（輕質(zhì)基體中的大多數(shù)元素），金屬合金<0.01%

X 射線產(chǎn)生器

X射線管陽極Au 或Ag 靶管，空氣冷卻，其他靶管可選

X射線發(fā)生器4-40KV（可調(diào)步長0.1KV）；

0-100μA（可調(diào)步長0.2μA）；功率4W

穩(wěn)定性0.1% × 8小時以上

光束大小3 X 4 mm，（訂制可達(dá)10mm）

X 射線探測器

標(biāo)配探測器: Si-Pin (165 eV FWHM @ 5.9 kev),帶電子制冷，有效面積6 mm

鈹窗厚度:0.5 mil

可選探測器: 高性能SDD (<145 eV FWHM @5,95 keV)，有效面積25 mm

樣品室

尺寸/重量：標(biāo)準(zhǔn)測試室：16” X 13” X 6.5”; 5.5kg

電        源：電池供電可達(dá)8小時

軟   件

操作系統(tǒng)PDA采用Windows CE/Mobile；自動進行光譜校正/調(diào)整；用戶自定義打印數(shù)據(jù)

數(shù)據(jù)采集時間：10-1200秒

光譜處理：譜峰自動查找；譜峰去卷積；背景消除；元素自動識別；背景之上的凈峰強度

算       法：采用基本參數(shù)法（FP），二次多項式逐步回歸分析法，手動光譜比較法

控制控制：X 射線源輸出控制、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)參數(shù)設(shè)定、樣品及濾波片選擇（可選）