| 材質(zhì) | 鑄鐵 鋼材 |
|---|---|
| 規(guī)格 | 透反射觀察 |
| 類型 | 正置式金相顯微鏡 |
| 適用范圍 | 工業(yè)領(lǐng)域；高校實(shí)驗(yàn) |
| 重量 | 18kg |
| 儀器放大倍數(shù) | 50x-1600x |
| 目鏡放大倍數(shù) | WF10X |
| 物鏡放大倍數(shù) | 5x 10x 20x 50x |
| 裝箱數(shù) | 一箱一臺(tái) |
| 品牌 | 西尼科光學(xué) |
| 型號(hào) | XK-200 |
| 加工定制 | 否 |
| 屬性 | 屬性值 |
正置金相顯微鏡采用平場(chǎng)消色差光學(xué)系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng)，同時(shí)在落射照明系統(tǒng)中設(shè)計(jì)防反射結(jié)構(gòu)，有效防止反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場(chǎng)襯度更好。
性能特點(diǎn)：
■提供穩(wěn)定可靠的操作機(jī)構(gòu),使成像更清晰,操作更簡(jiǎn)便。
■顯微鏡鏡體采用全新的人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)勻稱，實(shí)現(xiàn)鏡體擴(kuò)展積木化。
■工作臺(tái)、光強(qiáng)與粗微調(diào)的低位操作，提高了使用的舒適性。
■廣泛應(yīng)用于各類半導(dǎo)體硅晶片檢測(cè)、材料科學(xué)研究、地質(zhì)礦物分析及精密工程等學(xué)科領(lǐng)域。
| 產(chǎn)品型號(hào) | XK-200 |
| 光學(xué)系統(tǒng) | 有限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng) |
| 觀察筒 | 鉸鏈?zhǔn)诫p目，30°傾斜，360°旋轉(zhuǎn)，瞳距調(diào)節(jié)范圍：54-75mm， 雙邊±5屈光度可調(diào)；鉸鏈?zhǔn)饺?，固定式分光比? 雙目:三目=80%:20% |
| 目鏡 | PL10X高眼點(diǎn)平場(chǎng)目鏡，線視場(chǎng) 18mm |
| 物鏡 | 長(zhǎng)工作距平場(chǎng)消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X |
| 偏光系統(tǒng) | 簡(jiǎn)易偏光 |
| 轉(zhuǎn)換器 | 內(nèi)定位五孔轉(zhuǎn)換器 |
| 調(diào)焦機(jī)構(gòu) | 粗微調(diào)同軸，帶機(jī)械上限位和松緊調(diào)節(jié)裝置, 粗調(diào)行程28mm，微調(diào)精度0.002mm |
| 載物臺(tái) | 雙層機(jī)械移動(dòng)平臺(tái),附設(shè)180X145mm平板平臺(tái), 移動(dòng)范圍：76mmX50mm |
| 反射照明系統(tǒng) | 反射式柯拉照明 高照度LED芯片照明器 光強(qiáng)連續(xù)可調(diào),帶可變孔徑光闌與視場(chǎng)光闌,視場(chǎng)光闌中心可調(diào)。 |
| 攝影裝置 | 攝影接筒（帶PK卡口），3.2X攝影目鏡 |
| 攝像裝置 | 1.0X C型攝像接筒 |
| 透射照明器 | 6V30W透射照明系統(tǒng) |
