類型 | 光學(xué)顯微鏡 |
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品牌 | 上海光密 |
型號 | 15J |
15J 系列測量顯微鏡是光學(xué)計量儀器之一,它的結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下:直角座標(biāo)中測定長度,例如:測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等等。 轉(zhuǎn)動度盤測定角度,例如:對刻度盤,樣板、量規(guī),鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進行角度測量。 用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等。
二、技術(shù)參數(shù):
物 鏡 | 目 鏡 | 工作距離(mm) | 視場直徑 | ||
放大倍數(shù)(X) | 焦距(mm) | 放大倍數(shù)(X) | 焦距(mm) | ||
2.5X /0.08 | 43.40 | 10X | 25.00 | 58.84 | 5.6 |
10X /0.25 | 17.13 | 7.81 | 1.4 |
1、光學(xué)放大倍數(shù):25X 100X
2、測量工作臺讀數(shù)裝置主要規(guī)格:x軸移動測量范圍:50毫米
y軸移動測量范圍: 13毫米
3、測微器分度值:0.01毫米
4、測量臺轉(zhuǎn)動范圍: 不限
5、測量臺刻度盤分度范圍: 0° - 360°
6、測量臺刻度盤之分度值:1°
7、測量臺刻度盤游標(biāo)讀數(shù)示值: 6′
8、照明方式:反射光(自然光)
9、測量精度:儀器值誤差(5+L/15)微米
10、儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差。
注:測量地點溫度變化(20± 3)°C;L—被測件長度(毫米)
11、儀器之主要尺寸: 測量臺與物鏡間之**大距離:80毫米
12、測量工作臺直徑:120毫米
13、儀器外形尺寸:高325*長262*寬220毫米
14、儀器重量級: 約10.6公斤
15、顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉(zhuǎn),顯微鏡可由調(diào)焦手輪進行上下調(diào)焦。
注:15JA是在15J的基礎(chǔ)上增加了透射電光源照明系統(tǒng)。
三、儀器選配件:
1.其它相關(guān)附件
2.二維測量軟件(GM-2000M)
3.動態(tài)檢測軟件(GM-2000V)