| 色散元件 | 光柵光譜儀 |
|---|---|
| 探測(cè)器類型 | CCD |
| 銷售方式 | 直銷 |
| 執(zhí)行質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn) | 國(guó)標(biāo) |
| 品牌 | 盈信 光電直讀光譜儀 |
| 型號(hào) | YX-1000 |
| 加工定制 | 是 |
| 質(zhì)量認(rèn)證 | ISO9001-2000 |
YX-1000型全譜火花直讀光譜儀
全譜光譜儀技術(shù)（數(shù)字化技術(shù)替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管 模擬技術(shù)）、通道可不再受限制
基體范圍內(nèi)通道改變、增加不需費(fèi)用(指無通道限制報(bào)價(jià)）
可升級(jí)為其他基體，無須變動(dòng)增加硬件
采用吹氬型恒溫光室，穩(wěn)定、可靠、免維護(hù)；不再采用雙光室解決長(zhǎng)短波元素的技術(shù)問題
優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，同一樣品不同的時(shí)間段分析，可獲得良好的數(shù)據(jù)一致性
體積小、重量輕， 移動(dòng)安裝方便
高集成度、高可靠性、高穩(wěn)定性
節(jié)電、節(jié)材、能耗只是普通光譜儀50%
YX-1000光譜儀可應(yīng)用于固體金屬樣品的元素定量分析及牌號(hào)鑒定。光學(xué)系統(tǒng)采用CCD檢測(cè)器，光譜范圍覆蓋全部典型材料。儀器裝備有氬氣沖洗火花臺(tái)，開放式設(shè)計(jì)火花臺(tái)適合不同形狀和尺寸的樣品分析。光譜儀技術(shù)參數(shù)
光譜儀光學(xué)系統(tǒng)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)，羅蘭圓光學(xué)系統(tǒng)
羅蘭圓直徑：350mm
有效波長(zhǎng)范圍：170 – 520 nm
探測(cè)器：多塊高性能線陣CCD
光室溫度：自動(dòng)控制恒溫：34℃±0.5℃
像素分辨率：30pm
光柵刻線：2400 l/mm
一級(jí)光譜線色散率：1.5 nm/mm
外部入射窗口，方便清洗及更換
漂移校正功能-得益于自動(dòng)尋峰功能（達(dá)到0.1像素）
紫外波段靈敏度，得益于全新改良的真空技術(shù)
數(shù)字等離子發(fā)生器
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高效得益于緊湊的設(shè)計(jì)和半導(dǎo)體控制技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
激發(fā)參數(shù)可通過用戶界面由用戶根據(jù)實(shí)際需求自定義進(jìn)行設(shè)置
頻率100 – 1000Hz
電流1-80A
調(diào)整參數(shù)可能需調(diào)整元器件
優(yōu)化的樣品臺(tái)
開放式樣品臺(tái)設(shè)計(jì)，滿足大樣品測(cè)試要求
4mm樣品臺(tái)分析間隙
“噴射電極”技術(shù)輕松應(yīng)對(duì)小樣品及復(fù)雜幾何形狀樣品
低氬氣消耗, 待機(jī)時(shí):無須待機(jī)流量
通用可調(diào)樣品適配器
不同基體可方便更換相應(yīng)火花臺(tái)
優(yōu)化的雜質(zhì)排出系統(tǒng)
牢固的銅制樣品臺(tái)散熱效果好
計(jì)算機(jī)及讀出系統(tǒng)
國(guó)產(chǎn)品牌電腦
處理器: AMD 雙核 64X2 5200+
芯 片: AMD 690G + AMD SB600
內(nèi) 存: 1GB DDR 2
硬 盤: >250 GB
光 驅(qū): DVD
顯示器： 19寸液晶顯示器
數(shù)據(jù)輸出
數(shù)據(jù)以多種數(shù)據(jù)形式存儲(chǔ)
可接駁各種標(biāo)準(zhǔn)打印設(shè)備
數(shù)據(jù)可通過互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程發(fā)送傳輸
軟件系統(tǒng)
Windows XP操作系統(tǒng)
中文光譜儀操作軟件
可選數(shù)據(jù)維護(hù)程序
操作軟件分析功能
| 分析功能 | 全部或部分工作曲線標(biāo)準(zhǔn)化，運(yùn)用單點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)方法 類型校準(zhǔn)功能 校準(zhǔn)和分析時(shí)進(jìn)行重現(xiàn)性檢查 添加新校準(zhǔn)曲線 在現(xiàn)有分析曲線上添加新標(biāo)樣 內(nèi)標(biāo)校準(zhǔn)功能，基體校準(zhǔn)功能 分析譜線自動(dòng)切換 分析結(jié)果超分析曲線范圍，自動(dòng)進(jìn)行推算及標(biāo)識(shí) |
| 豐富的數(shù)據(jù)輸出形式 | 用戶自定義需檢測(cè)元素及顯示順序 用戶自定義需檢測(cè)/打印/存儲(chǔ)的元素種類 用戶自定義需檢測(cè)/打印/存儲(chǔ)的小數(shù)點(diǎn)數(shù)位 用戶自定義樣品名稱 可通過物質(zhì)含量形式輸出質(zhì)量百分比及多條相關(guān)譜線質(zhì)量百分比分析結(jié)果 可用光強(qiáng)形式輸出強(qiáng)度, 系數(shù)校準(zhǔn)強(qiáng)度系數(shù),修正校準(zhǔn)強(qiáng)度系數(shù)分析結(jié)果 可計(jì)算任意激發(fā)次數(shù)測(cè)量結(jié)果的均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差及相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 |
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及打印功能 | 通過系統(tǒng)自帶數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行存儲(chǔ) 數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為多種數(shù)據(jù)格式 數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為單次測(cè)量數(shù)據(jù)，和/或多次測(cè)試數(shù)據(jù)之平均值 可存儲(chǔ)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 可人工或自動(dòng)進(jìn)行存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)存 可打印單次測(cè)量數(shù)據(jù)，和/或多次測(cè)試數(shù)據(jù)之平均值 可打印統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 可人工或自動(dòng)打印所有的存儲(chǔ)數(shù)據(jù) |
| 儀器自帶診斷功能 | 氬氣氣壓監(jiān)視器 真空狀態(tài)監(jiān)視器 自動(dòng)波譜漂移控制 儀器標(biāo)準(zhǔn)化程序及錯(cuò)誤信息日志 可顯示所有儀器存儲(chǔ)完整譜圖數(shù)據(jù)并與現(xiàn)有測(cè)試譜圖進(jìn)行比較 |
| 其他功能 |
牌號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)及自定義牌號(hào)輸入功能 牌號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)輸入及輸出功能（通過Excel） 用戶自定義公式輸入功能 |
