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TESCAN MAIA3分析用掃描電子顯微鏡/電子顯微鏡
產(chǎn)品: 瀏覽次數(shù):893TESCAN MAIA3分析用掃描電子顯微鏡/電子顯微鏡 
品牌: TESCAN
型號: MAIA3分析用掃描電子顯微鏡
單價: 面議
最小起訂量:
供貨總量:
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 10 天內(nèi)發(fā)貨
有效期至: 長期有效
最后更新: 2023-08-01 18:51
 
詳細(xì)信息
品牌 TESCAN
型號 MAIA3分析用掃描電子顯微鏡
加工定制

TESCAN MAIA3分析用掃描電子顯微鏡

MAIA3是新開發(fā)的分析用掃描電子顯微鏡,它可以得到在15kV下1nm的超高分辨率。采用二次電子信號,在1kV下分辨率為1.4nm。此型號電鏡配備肖特基場發(fā)射電子槍,以及TESCAN先進(jìn)的三透鏡電子光學(xué)系統(tǒng)。

相比于常規(guī)物鏡,它采用了TESCAN獨(dú)特構(gòu)造的60度磁浸沒物鏡,它能顯著地減小光學(xué)像差,在低電壓下依然有著超高的分辨率。另外,添加的中磁透鏡可以和物鏡同時使用或者代替物鏡觀察,以提供多種顯示模式。

**的特性:

u  具有非凡分辨率的單極60度角物鏡;

u  無場模式用于磁性樣品的觀察;

u  高亮度肖特基電子槍可得到高分辨率/高束流/低噪聲的圖像;

u  鏡筒中的In-Beam二次電子探測器用于小工作距離條件下二次電子的檢測;

u  獨(dú)有的三透鏡大視野觀察設(shè)計,提供了多種工作模式和顯示模式,體現(xiàn)了TESCAN專有中間透鏡(IML)的功能;

u  實(shí)時電子束追蹤技術(shù),可模擬和進(jìn)行束斑優(yōu)化,包括直接和連續(xù)控制電子束束斑和束流大??;

u  電子束減速模式在低電壓下獲取**的分辨率(選配);

u  In-Beam背散射電子探測器用于小工作距離的背散射電子成像;

u  成像速度快;

u  高通量大面積自動化,例如自動顆粒分布和分析;

u  計算機(jī)優(yōu)化、馬達(dá)驅(qū)動的樣品臺;

u  利于EDX、EBSD分析的理想幾何設(shè)計;

u  由于使用了強(qiáng)力的渦淪分子泵和機(jī)械泵,因而可以快速簡單得到干凈的真空樣品室;電子槍的真空度由離子泵來維持;

u  包括電子光學(xué)設(shè)置和校準(zhǔn)的全自動顯微鏡設(shè)置;

u  完善的軟件用于SEM控制,圖像采集、存檔、處理和分析;多用戶多語言操作界面;

u  網(wǎng)絡(luò)操作和內(nèi)置的遠(yuǎn)程控制/診斷是TESCAN的標(biāo)準(zhǔn)配置;

u  獨(dú)特的3維電子束技術(shù)用于獲得實(shí)時立體圖像。

 

聯(lián)系人:

袁文軍  +86-21-31255909          郵箱:yuanwenjun@sunano.com.cn

 

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